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哪些原因可能导致XRF快速检测仪的误差

来源：未知作者：admin 发布时间：2021-12-30 03:12:00 阅读次数：69

XRF快速检测仪采用的是一种相对分析技术，这意味着为了获得结果，需要将未知样品中收集的数据与仪器上的标样数据相比较，并将其与已经建立的物理公式相联系。虽然此种技术有较高的接受度，用户也接受过正确使用的培训，但有些情况会影响结果并引起误差。

1.样品未聚焦

这是XRF快速检测仪测量零件的关键步骤。聚焦使X射线管、零件和探测器间保持固定的距离。X射线强度会随着距离的增加而衰减，因此X射线管和探测器与样品间的距离太远会导致测量结果偏薄。而X射线管和探测器与样品间的距离太近会导致测量结果偏厚。对于多层镀层，此种情况更甚，因为距离数据被在计算中错误使用。

2.零件放置方向不正确

对于平直零件，旋转角度不是问题，因为XRF信号不受影响。但是对于弯曲零件非常重要的是，将零件的轴与X射线管和探测器的轴向保持一致。

这使零件对齐更容易且数据再现性更好，这可以方便X射线束照射在凸形零件顶部或凹形零件底部，而不是侧壁上。与聚焦的情况类似，错位测量也会改变X射线管样品-探测器间的距离。在极端情况下，零件未对齐可能会使所有XRF信号无法到达探测器。

3.基材变化

基于镀层和基底中的材料，基底中的元素会影响镀层的XRF特性。以上是众所周知的事实，因此，使用与待测量的零件相似的材料以创建校准程序可获得更好效果。如果零件的基底材料与校准标样所使用的基底不同，结果可能会有误差。

例如在青铜（CuSn）基底上镀镍（Ni）和金（Au）的零件。青铜基底中的锡（Sn）几乎可以起到辅助X射线源的作用，使镀层产生更多X射线荧光信号。如果使用纯铜（Cu）基底进行校准，则锡（Sn）的二次荧光作用未被正确计入计算模型中，从而导致镍和金的结果不正确。

4.测量结果超出校准范围

镀层厚度或成分与强度（XRF响应）之间的关系在小范围内是线性关系，但在较大范围内可能是曲线关系。因此，校准曲线被优化，在有限的厚度和成分范围内工作，而不是覆盖整个分析范围。

该优化范围由回归设置及创建校准曲线时使用的标样决定。用户可与XRF快速检测仪制造商合作，了解校准曲线范围，如果测量结果超出该范围，则在用户的软件中设置警告。

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