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土壤XRF检测仪的样品如何制备

来源:未知作者:admin 发布时间:2021-06-08 05:06:08 阅读次数:94

对于分析精度要求较高的待测试样本来说,在样本制作过程中可能会影响土壤XRF检测仪测试结果的因素一一排除是保证样本测试精度的有效途径,因此分析样本制作过程中的一般问题,了解其影响机理是非常重要的,欧润智能小编将重点介绍样本制作过程中的一般问题的机理和解决方法。
土壤XRF检测仪的样品如何制备
样品的表面状态。
在土壤XRF检测仪分析中,大多数样品的分析深度只有几到几十微米。因此,样品表面状态对测试结果的影响显着。样品表面粗糙度高时,来自x射线管的x射线不能完全检测样品表面,样品发出的二次x射线强度低于实际值。因此,确保待测试样品表面的光滑非常重要。
样品的不均匀性效果。
土壤XRF检测仪光谱分析中的不均匀性效果往往存在于块状样品和矿物样品中,是分析结果不正确的原因之一。这里提到的不均匀性主要分为矿物效应和偏析效应。
样品的粒度效应。
粒度效应多存在于粉末样品中,由于研磨方法的局限性,样品中难研磨要素的粒度通常大于其他粒子,样品测试深度浅时,测量面中小粒子样品明显多于大粒子样品,存在难研磨要素的大粒子样品少,土壤XRF检测仪最终检测出难研磨要素的含量低于实际含量。另外,粒度不均匀也会增加样品表面的粗糙度,影响测试结果。
基体效应-元素之间吸收增强效应。
在土壤XRF检测仪的实际工作中,待检测样品一般由多种要素构成,除待检测要素外所有要素的集合统称为基体。待测试样品中基体成分的变化直接影响待测试要素的测试结果。换句话说,待测元素的含量相同,由于其基体成分不同,测定的待测元素的特征x射线强度不同,这就是基体效果。
基体效应是目前无法通过制样方法消除的影响,由x射线荧光产生的原理决定。如果样品中含有与原子序数相似的要素b,则a的特征射线强度正好满足激发b要素的条件,或者b的射线强度正好能激发a,在激发或激发过程中会引起a要素荧光强度的变化,即改变土壤XRF检测仪的测试结果。
样品表面状态、不均匀效果和粒度效果的客观存在会导致土壤XRF检测仪的测试结果不准确。因此,欧润智能小编认为有必要科学地制作样品以避免上述影响。测试前研磨块状样品,充分研磨或熔化粉末样品是解决上述影响的有效手段。

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