新闻资讯

公司新闻

X射线荧光光谱仪的测量技术有何进展

来源：未知作者：admin 发布时间：2021-07-01 05:07:56 阅读次数：104

欧润小编发现，目前 ,无论是波长色散X射线荧光光谱仪还是能量色散 X射线荧光光谱仪 ,谱仪测量技术的进展主要体现在以下几个方面。

1. 1 数据处理系统智能化

1) 软件智能化:窗式软件的使用 ,将仪器的工作状态实时地显示得一清二楚。

2)汇编分析程序智能化:现代的分析软件包能自动进行汇编分析程序 ,操作者只要从仪器显示的元素周期中输入所要分析的元素 ,分析程序就会自动设定分析元素所需的最佳的测量条件和参数。

3)基体效应校正的智能化:基体效应一直是 X 射线荧光分析工作者一个非常头痛的问题。现代智能化的分析软件包已包括了多种数学校正模式 ,可进行多种情况的基体效应校正 ,应用这些数学校正模式 ,可获得准确的分析结果。

4)无标定量分析 :无标定量分析即半定量分析。近年来 ,随着计算机技术的广泛应用和 X射线荧光分析技术的不断完善 ,以及对样品形状、大小、不同元素的相互作用等诸多物理参数的积累和多种数学校正模式的综合利用 ,进行样品分析时 ,并不要求测试每个样品时必须配置相应的标样 ,只要在进行仪器刻度时使用一套标样 ,即可对各种样品进行半定量分析 ,而且测试结果的准确度也是比较高的。

1. 2 电子元件的大规模集成化和功能化

在现代 X射线荧光光谱仪的分析数据处理系统中 ,早已由大规模集成化元件取代了单一功能的分列电子元件 ,并出现一个元件就包含了一个较为复杂电路的功能化元件。使整个电路系统变得非常简单清晰。

1. 3 功能部件的小型化和一体化

随着电子元件的集成化和功能化 ,现代 X射线荧光谱仪的各部件也不断小型化 ,向机体一体化发展。谱仪系统由复杂、笨重向小型、轻便过度。

1. 4 谱仪的多功能化

随着科研工作的不断深入 ,测量中不仅要准确知道样品中元素的含量 ,而且还想了解各元素在亚微区的分布情况及元素的存在状态。因此 ,就产生出了 X 射线荧光与 X 射线衍射联用、带微区扫描分析的 X 射线荧光光谱仪 ,将被测物件中各元素含量分布以三维图像显示出来。

1. 5 样品更换自动化

欧润小编了解到，现代 X 射线荧光谱仪 ,无论是波长色散 X射线荧光光谱仪还是能量色散 X射线荧光光谱仪均配置了样品自动更换器。它采用条形码自动识别技术 ,用磁抓或真空吸盘装置 ,自动更换样品 ,完成全部设定样品的测量。在一次分析中 ,最多可完成近百个样品的自动更换和测量。

上一篇：X射线荧光光谱仪的发展原理

下一篇：怎么操作XRF快速检测仪