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X射线荧光光谱仪的发展原理

来源：未知作者：admin 发布时间：2021-07-01 05:07:12 阅读次数：84

欧润智能小编先给大家普及一下，X射线荧光光谱仪的物理原理。

当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质放射出的辐射，这是原子的能量特性。

自 1895 年德国物理学家伦琴发现了 X 射线 ,1896 年法国物理学家乔治发现了X射线荧光 ,1948 年弗利德曼和伯克斯首先研制了第一台商品性的波长色散 X射线荧光光谱仪以来 ,X射线荧光光谱分析技术发展迅速。

尤其是 20 世纪 90 年代以来 ,随着电子技术和计算机的飞速发展 ,X 射线荧光光谱仪和 X射线荧光分析技术及其计算机软件的不断开发 ,X射线荧光光谱仪现已由单一的波长色散 X射线荧光光谱仪发展成拥有波长色散、能量色散、电子探针、全反射、同步辐射和质子 X射线光谱仪等一大家族。

X射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的 X射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。

X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测 ,对产品和材料质量进行无损检测 ,对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要分析手段 ,也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时 ,X射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面首选仪器之一。

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